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LED器件光强测试系统

简要描述:HP860 LED器件光强测试系统专用于测量 LED 的配光曲线(LED 光强分布)、光束角、法向光强、正向电压、反向电流、反向击穿电压等光电参数,符合 CIE pub. 条件 A 或 B。系统实现了 LED 光、电性能的高精度测试,为 LED 生产厂商提供充分的光、电参数,使 LED 的研制和生产更加有效、可靠。

  • 产品品牌:双色云谱
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2026-10-29
  • 访  问  量:15
详细介绍
品牌双色云谱产地国产
加工定制是

LED器件光强测试系统主要测试模块

Test Modules

▸ 光强分布测试(配光曲线、光束角、法向光强)  Intensity Distribution

▸ 色度分布测试(色温漂移、色坐标随角度变化)  Chromaticity Distribution

▸ 光谱测试(光谱功率分布、显色指数)  Spectral Test

▸ 老化测试(光衰、色衰趋势)  Aging / Lifetime Test

▸ 光电特性测试(Iv-If、Vf-If、Shockley 参数)  Opto-electrical Characteristics

LED器件光强测试系统

主要测试功能

TEST FUNCTIONS

 

4.1 光强分布测试

Intensity Distribution

测量 LED 在 -90°~+90° 范围内的光强分布,自动绘制直角坐标 / 极坐标 / 辐射模式曲线,自动测定光束角。输出峰值光强、平均光强、等效光通量、峰值角度、半强度角(50% / 10% 光强对应角度范围)等。

4.2 色度分布测试

Chromaticity Distribution

配合光谱仪进行角度扫描,测量 CCT、Ra、色坐标随角度的变化;输出色度曲线、色温漂移(Duv vs 角度)、CIE 1976 u'v' 色度图、光谱图与全量色度数据。

4.3 光谱测试

Spectral Test

采集 380–780 nm 光谱功率分布(SPD),自动计算色温、显色指数(Ra、R1–R15)、峰值波长、主波长、质心波长、半峰宽(FWHM)、色坐标等 100+ 全量参数,并绘制 CIE 色度图。

4.4 老化测试

Aging Test

在恒定电流驱动下长时间监测光通量 / 色度衰减趋势,支持 LM-80 测试要求与 TM-21 推算原理,用于评估 LED 光衰与寿命(L70/L80/L90)。

4.5 光电特性测试

Opto-electrical Characteristics

测量光强–正向电流(Iv-If)、正向电压–正向电流(Vf-If)特性曲线,依据 Shockley 二极管方程拟合参数,输出多电流扫描数据表与光效(lm/W)。


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